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盡管本標(biāo)準(zhǔn)中描述的幾種起痕與蝕損試驗方法在文獻中可能經(jīng)常被稱為“老化試驗”，但指出它們 在一定意義上不是加速老化試驗很重要。因為這些試驗既不能模擬確切的降低實際使用壽命的條件， 也不能通過短時間的加速給出一個壽命的等伉試驗…而所使用的持續(xù)的、循環(huán)的或組合的應(yīng)力，是要試 圖努力發(fā)現(xiàn)可能危及絕緣子運行性能的潛在薄弱點。
這些相關(guān)的試驗（9. 3. 3,附錄A,附錄B）*被描為篩選試驗，可以用來剔除不適用的材料或者 設(shè)計。
聚合物絕緣子的老化過程一般不會同時造成容易測量的引起老化的逐漸變化的特征。絕緣子從 “性能良好”到“使用壽命結(jié)束”的璽化，經(jīng)常是迅速而沒有事先預(yù)兆的，并有可能被類似前面提及的鹽霧 試驗中所得到蝕損深度，或強紫外線所造成的表面開裂觀察到。這種變化的時間和速度依賴于很多參 數(shù)，包括絕緣了的材料、設(shè)計以及絕緣于的運行環(huán)境。因此，對于用這樣的老化試驗預(yù)測絕緣于的真實 壽命，僅當(dāng)?shù)玫皆谙嗤蛳嗨频沫h(huán)境下相同或相似的絕緣子的關(guān)于損傷或降解的數(shù)據(jù)冇效時，才是有訂 能的。
因此,這些試驗的應(yīng)用是為了給出設(shè)計和材料的特性與比較苛刻而拒嚴(yán)酷的環(huán)境中呈現(xiàn)的應(yīng) 力之間關(guān)系的-般信息。
重要的是，要注意到通過標(biāo)準(zhǔn)的“試驗結(jié)束”時的破壞水平在大部分運行環(huán)境下是不能接受的。例 如，在相關(guān)試驗（9. 3.-3,附錄A,附錄B）中"［到3 mm的蝕損深度在試驗中是可以接受的，但絕緣子 運行中這不能被接受.，在絕緣*的設(shè)計壽命中也不希望發(fā)生。
進一步的信息，見C1GRE技術(shù)手冊142冊：“聚合物絕緣子的i'|然和人工老化以及污穢試驗” （）7,1999。
